Show simple item record

dc.contributor.authorКоваленко, Д. А.
dc.contributor.authorБуневич, М. А.
dc.contributor.authorВрублевский, И. А.
dc.coverage.spatialГомельru_RU
dc.date.accessioned2026-07-02T09:44:52Z
dc.date.available2026-07-02T09:44:52Z
dc.date.issued2026
dc.identifier.citationКоваленко, Д. А. Исследование механизма проводимости анодных пленок TiO2 при низких температурах / Д. А. Коваленко, М. А. Буневич, И. А. Врублевский // ERA – Современная наука: электроника, робототехника, автоматизация : материалы II Междунар. науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и молодых ученых, Гомель, 30–31 окт. 2025 г. / Гомел. гос. техн. ун-т им. П. О. Сухого, Фак. автоматизир. и информ. систем ; под общ. ред. А. А. Бойко. – Гомель : ГГТУ им. П. О. Сухого, 2026. – С. 226–228.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.gstu.by/handle/220612/51072
dc.description.abstractИзучены электрические свойства тонких пленок TiO, полученных методом электрохимического окисления. Проведено исследование вольт-амперных характеристик пленок в диапазоне температур 263–300 К. Выявлен механизм токов ограниченного пространственного заряда для проводимости тонких пленок. Определена асимметрия ВАХ при прямом и обратном включениях.ru_RU
dc.description.abstractThe electrical properties of TiO thin films obtained by electrochemical oxidation method have been studied. An investigation of current-voltage characteristics of the films was conducted in the temperature range of 263–300 K. A space charge limited current mechanism for the conductivity of thin films was identified. Asymmetry of I–V characteristics under forward and reverse bias conditions was determined.
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГГТУ им. П.О. Сухогоru_RU
dc.subjectДиоксид титанаru_RU
dc.subjectЭлектрохимическое окислениеru_RU
dc.subjectТоки ограниченного пространственного зарядаru_RU
dc.subjectВольт-амперные характеристикиru_RU
dc.subjectПолупроводниковые свойстваru_RU
dc.subjectTitanium dioxideru_RU
dc.subjectElectrochemical oxidationru_RU
dc.subjectSpace charge limited currentsru_RU
dc.subjectCurrent-voltage characteristicsru_RU
dc.subjectSemiconductor propertiesru_RU
dc.titleИсследование механизма проводимости анодных пленок TiO2 при низких температурахru_RU
dc.title.alternativeInvestigation of conductivity mechanisms in anodic TiO2 films at low temperaturesru_RU
dc.typeArticleru_RU


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record