Температурная зависимость диэлектрических потерь в двухкомпонентных силикатных стеклах систем К₂О —SiO₂ и PbO-SiO₂

dc.contributor.author	Иоффе, В. А.
dc.coverage.spatial	Москва	ru_RU
dc.date.accessioned	2026-04-24T05:54:31Z
dc.date.available	2026-04-24T05:54:31Z
dc.date.issued	1952-11-21
dc.identifier.citation	Иоффе, В. А. Температурная зависимость диэлектрических потерь в двухкомпонентных силикатных стеклах систем К₂О —SiO₂ и PbO-SiO₂ / В. А. Иоффе // Доклады Академии Наук СССР. — 1952. — Т. LXXXVII, № 3 — С. 405—408.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://elib.gstu.by/handle/220612/48164
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Издательство Академии Наук СССР	ru_RU
dc.subject	Техническая физика	ru_RU
dc.title	Температурная зависимость диэлектрических потерь в двухкомпонентных силикатных стеклах систем К₂О —SiO₂ и PbO-SiO₂	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU