Температурная зависимость диэлектрических потерь в двухкомпонентных силикатных стеклах систем К₂О —SiO₂ и PbO-SiO₂
Библиографическое описание
Иоффе, В. А. Температурная зависимость диэлектрических потерь в двухкомпонентных силикатных стеклах систем К₂О —SiO₂ и PbO-SiO₂ / В. А. Иоффе // Доклады Академии Наук СССР. — 1952. — Т. LXXXVII, № 3 — С. 405—408.
Данный документ располагается в коллекциях
- Оцифрованный фонд [11504]
