Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorАль-Камали, М. Ф. С. Х.
dc.coverage.spatialГомельru_RU
dc.date.accessioned2026-03-31T08:05:11Z
dc.date.available2026-03-31T08:05:11Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationАль-Камали, М. Ф. С. Х. SiO2:GeO2(Ge°) керамические нанокомпозиты, полученные золь-гель методом для применений в микроэлектронике / М. Ф. С. Х. Аль-Камали // IV Республиканский форум молодых ученых учреждений высшего образования с международным участием : cборник материалов форума, Гомель, 18–20 мая 2025 года / Гомельский гос. ун-т им. Ф. Скорины. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2025. – С. 3–4.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.gstu.by/handle/220612/46896
dc.description.abstractВ данной работе исследовалось взаимодействие допантов с SiO2-каркасом ксерогеля, синтезированного при 800 °C. Результаты показали высокую однородность морфологии и пористую структуру образцов SiO2:GeO2(Ge°), что открывает новые перспективы для их применения в тонкопленочных технологиях и композитных материалах.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГГУ им. Ф. Скориныru_RU
dc.subjectДопантыru_RU
dc.subjectТонкопленочные технологииru_RU
dc.subjectКомпозитные материалыru_RU
dc.subjectЗоль-гель методru_RU
dc.subjectЗоль-гель синтезru_RU
dc.subjectЗоль-гель технологияru_RU
dc.subjectНанокомпозитные материалыru_RU
dc.subjectНанокомпозитыru_RU
dc.subjectкомпозитны материалru_RU
dc.titleSiO2:GeO2(Ge°) керамические нанокомпозиты, полученные золь-гель методом для применений в микроэлектроникеru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc546:54.057


Файлы, содержащиеся в ресурсе

Thumbnail

Располагается в коллекциях:

Показать сокращенную информацию