Показать сокращенную информацию
SiO2:GeO2(Ge°) керамические нанокомпозиты, полученные золь-гель методом для применений в микроэлектронике
| dc.contributor.author | Аль-Камали, М. Ф. С. Х. | |
| dc.coverage.spatial | Гомель | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2026-03-31T08:05:11Z | |
| dc.date.available | 2026-03-31T08:05:11Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.identifier.citation | Аль-Камали, М. Ф. С. Х. SiO2:GeO2(Ge°) керамические нанокомпозиты, полученные золь-гель методом для применений в микроэлектронике / М. Ф. С. Х. Аль-Камали // IV Республиканский форум молодых ученых учреждений высшего образования с международным участием : cборник материалов форума, Гомель, 18–20 мая 2025 года / Гомельский гос. ун-т им. Ф. Скорины. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2025. – С. 3–4. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://elib.gstu.by/handle/220612/46896 | |
| dc.description.abstract | В данной работе исследовалось взаимодействие допантов с SiO2-каркасом ксерогеля, синтезированного при 800 °C. Результаты показали высокую однородность морфологии и пористую структуру образцов SiO2:GeO2(Ge°), что открывает новые перспективы для их применения в тонкопленочных технологиях и композитных материалах. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ГГУ им. Ф. Скорины | ru_RU |
| dc.subject | Допанты | ru_RU |
| dc.subject | Тонкопленочные технологии | ru_RU |
| dc.subject | Композитные материалы | ru_RU |
| dc.subject | Золь-гель метод | ru_RU |
| dc.subject | Золь-гель синтез | ru_RU |
| dc.subject | Золь-гель технология | ru_RU |
| dc.subject | Нанокомпозитные материалы | ru_RU |
| dc.subject | Нанокомпозиты | ru_RU |
| dc.subject | композитны материал | ru_RU |
| dc.title | SiO2:GeO2(Ge°) керамические нанокомпозиты, полученные золь-гель методом для применений в микроэлектронике | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 546:54.057 |
