Показать сокращенную информацию
Минимизация времени тестирования СБИС детерминированными тестовыми наборами
| dc.contributor.advisor | Мурашко, И. А. | |
| dc.contributor.author | Толстогузов, Ю. А. | |
| dc.coverage.spatial | Гомель | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2025-01-27T07:28:44Z | |
| dc.date.available | 2025-01-27T07:28:44Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | Толстогузов, Ю. А. Минимизация времени тестирования СБИС детерминированными тестовыми наборами / Ю. А. Толстогузов ; науч. рук. И. А. Мурашко // Актуальные вопросы физики и техники : материалы V Республиканской научной конференции студентов, магистрантов и аспирантов : в 3 частях, Гомель, 21 апреля 2016 года / Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2016. – Часть 3. – С. 277–278. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://elib.gstu.by/handle/220612/40762 | |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ГГУ им. Ф. Скорины | ru_RU |
| dc.subject | Производство интегральных схем | ru_RU |
| dc.subject | Тестирование интегральных схем | ru_RU |
| dc.subject | Интегральные схемы | ru_RU |
| dc.subject | Тестовые наборы | ru_RU |
| dc.subject | Сжатие тестов | ru_RU |
| dc.title | Минимизация времени тестирования СБИС детерминированными тестовыми наборами | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 004.42 |
