Электрический пробой в чистом гелии при низких температурах
dc.contributor.author | Гохберг, Б. М. | |
dc.contributor.author | Бухина, М. Ф. | |
dc.coverage.spatial | Москва—Ленинград | ru_RU |
dc.date.accessioned | 2024-12-26T11:08:51Z | |
dc.date.available | 2024-12-26T11:08:51Z | |
dc.date.issued | 1950-03-01 | |
dc.identifier.citation | Гохберг, Б. М. Электрический пробой в чистом гелии при низких температурах / Б. М. Гохберг, М. Ф. Бухина // Доклады Академии Наук СССР. — 1950. — Т. LXXI, № 1. — С. 27—28. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://elib.gstu.by/handle/220612/40179 | |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Издательство Академии Наук СССР | ru_RU |
dc.subject | Физика | ru_RU |
dc.title | Электрический пробой в чистом гелии при низких температурах | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
-
Оцифрованный фонд [7347]