Электронная библиотекаГомельский государственный технический университет имени П.О. Сухого
    • English
    • русский
  • русский 
    • English
    • русский
  • Войти
ISSN (online): 2523-4102
Просмотр ресурса 
  •   Главная страница
  • Библиотека
  • Оцифрованный фонд
  • Просмотр ресурса
  •   Главная страница
  • Библиотека
  • Оцифрованный фонд
  • Просмотр ресурса
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Электрический пробой в чистом гелии при низких температурах

Thumbnail
Авторы
Гохберг, Б. М.
Бухина, М. Ф.
Дата публикации
1950-03-01
Библиографическое описание
Гохберг, Б. М. Электрический пробой в чистом гелии при низких температурах / Б. М. Гохберг, М. Ф. Бухина // Доклады Академии Наук СССР. — 1950. — Т. LXXI, № 1. — С. 27—28.
Данный документ располагается в коллекциях
  • Оцифрованный фонд [7480]
URI
https://elib.gstu.by/handle/220612/40179
Просмотреть/Скачать
27-28.pdf (601.0Кб)
Показать полную информацию

Copyright ©  2012-2025,  Гомельский государственный технический университет имени П.О. Сухого
 О библиотеке |  Контакты |  Отправить отзыв

Нашли ошибку? Выделите ее и нажмите CTRL+Enter

 

 

Просмотр

ОбщийПо разделам и коллекциямПо авторамПо названиямПо дате добавленияПо дате публикацииПо ключевым словамЭта коллекцияПо авторамПо названиямПо дате добавленияПо дате публикацииПо ключевым словам

Профиль пользователя

Войти

Copyright ©  2012-2025,  Гомельский государственный технический университет имени П.О. Сухого
 О библиотеке |  Контакты |  Отправить отзыв

Нашли ошибку? Выделите ее и нажмите CTRL+Enter