Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorAL-Kamali, M. F. S. H.
dc.contributor.authorKovaleva, O. A.
dc.contributor.authorLushpa, N. V.
dc.contributor.authorVrublevsky, I. A.
dc.coverage.spatialГомельru_RU
dc.date.accessioned2023-11-08T06:40:41Z
dc.date.available2023-11-08T06:40:41Z
dc.date.issued2023
dc.identifier.citationRecognitionand Analysis of Microstructure Parameters of Porous Anodic Films Using ImageJ / M. F. S. H. AL-Kamali [и др.] // Исследования и разработки в области машиностроения, энергетики и управления : материалы XXIII Междунар. науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и молодых ученых, Гомель, 27–28 апр. 2023 г. : в 2 ч. Ч. 1 / М-во образования Респ. Беларусь, Гомел. гос. техн. ун-т им. П. О. Сухого ; под общ. ред. А. А. Бойко. – Гомель : ГГТУ им. П. О. Сухого, 2023. – С. 105-107.ru_RU
dc.identifier.urihttps://elib.gstu.by/handle/220612/29143
dc.description.abstractThe most important parameters that characterize the microstructure of the films and determine the possibility of their use as porous templates are the pore diameter, porosity, and ordering of the porous structure. Therefore, to increase the efficiency of the use of porous anodic alumina films, it is important to investigate the effect of the formation modes on the microstructure. The aim of this work was to choose and optimize a model for processing experimental data obtained by scanning electron microscopy in the ImageJ to determine the parameters of the microstructure of porous films. The work shows the result of SEMimage analysis and obtains plots of pore diameter distribution by size and determines the diameter of the main pores.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherГГТУ им. П.О. Сухогоru_RU
dc.subjectPorous filmru_RU
dc.subjectAnodic aluminaru_RU
dc.subjectPore diameterru_RU
dc.subjectSEM imagesru_RU
dc.subjectImageJru_RU
dc.subjectGaussian fittingru_RU
dc.titleRecognitionand Analysis of Microstructure Parameters of Porous Anodic Films Using ImageJru_RU
dc.typeArticleru_RU


Файлы, содержащиеся в ресурсе

Thumbnail

Располагается в коллекциях:

Показать сокращенную информацию