Показать сокращенную информацию
Новый подход к проектированию цепи сканирования для встроенного самотестирования СБИС
| dc.contributor.author | Мурашко, И. А. | |
| dc.contributor.author | Шмидман, А. М. | |
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | |
| dc.coverage.spatial | Москва | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2024-09-04T07:38:40Z | |
| dc.date.available | 2024-09-04T07:38:40Z | |
| dc.date.issued | 1998 | |
| dc.identifier.citation | Мурашко, И. А. Новый подход к проектированию цепи сканирования для встроенного самотестирования СБИС / И. А. Мурашко, А. М. Шмидман, В. Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 1998. – № 7. – С. 157–167. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://elib.gstu.by/handle/220612/37512 | |
| dc.description.abstract | В работе предлагается новый подход к проектированию цепи сканирования, основанный на применении Т-триггеров вместо традиционно используемых D-триггеров. Реализация данного подхода позволяет уменьшить время трансляции детерминированных тестовых наборов, улучшить качество псевдослучайных тестовых наборов при функционировании цепи сканирования в качестве источника тестовых воздействий, а также повысить достоверность тестового эксперимента при использовании цепи сканирования в качестве устройства сжатия реакций. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Академиздатцентр «Наука» РАН | ru_RU |
| dc.subject | Сверхбольшие интегральные схемы | ru_RU |
| dc.subject | Встроенное самотестирование | ru_RU |
| dc.subject | Т-триггеры | ru_RU |
| dc.title | Новый подход к проектированию цепи сканирования для встроенного самотестирования СБИС | ru_RU |
| dc.title.alternative | Built-in self-test scanners for very large-scale integration: a new design approach | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 681.326.7 |
