Search
Now showing items 1-1 of 1
Способ измерения энергии тепловых потерь при испытании мощного полупроводникового светодиода
(2016)
Изобретение относится к испытаниям мощных полупроводниковых светоизлучающих диодов (СИД) мощностью более трех ватт, а именно к способу определения энергии тепловых потерь, выделяющейся при работе СИД, и может быть использовано ...