Повышение чувствительности рабочего режима атомно-силового микроскопа путем улучшения функциональных характеристик пьезоэлектрических материалов, используемых при его изготовлении
Библиографическое описание
Повышение чувствительности рабочего режима атомно-силового микроскопа путем улучшения функциональных характеристик пьезоэлектрических материалов, используемых при его изготовлении : дис. на соиск. академ. степ. магистра техн. наук / Е. С. Неведомский; Гомел. гос. техн. ун-т им. П. О. Сухого. - Гомель, 2019. - 94 с.
Данный документ располагается в коллекциях
- Диссертации [807]