Особенности применения средств рефлектометрии для оптоволоконных систем
![Thumbnail](/bitstream/handle/220612/10187/%d0%9b%d0%b5%d0%b2%d0%ba%d0%be%d0%b2%d0%b8%d1%87%2c%20%d0%90.%20%d0%a1.%20%d0%9e%d1%81%d0%be%d0%b1%d0%b5%d0%bd%d0%bd%d0%be%d1%81%d1%82%d0%b8...pdf.jpg?sequence=7&isAllowed=y)
Author
UDC: 621.01+621.3+33+004(042.3)
LBC: 30+65
ISBN: 978-985-535-015-7
Issue date
2011-04Citation
Особенности применения средств рефлектометрии для оптоволоконных систем / А. С. Левкович // Исследования и разработки в области машиностроения, энергетики и управления: материалы ХI Международной науч.-техн. конф. студентов, магистрантов и аспирантов [28-29 апреля 2011 г., г. Гомель]. - Гомель, 2011. - С. 217-220.